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Document: texte impriméBayesian analysis of stochastic process models / David Insua / Chichester (GBR) ; Hoboken, N.J. : John Wiley & Sons (2012) Ouvrir le lien
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Titre :Bayesian analysis of stochastic process models
Type de document : texte imprimé
Auteurs : David Insua ; Fabrizio Ruggeri ; Mike Wiper
Editeur :Chichester (GBR) ; Hoboken, N.J. : John Wiley & Sons
Année de publication : 2012
Collection : Wiley series in probability and statistics, ISSN 1940-6517
Importance : XIII-290 p.
Présentation : couv. ill.
Format : 24 cm
ISBN/ISSN/EAN : 978-0-470-74453-6
Note générale : Index. Notes bibliogr.
Langues :Anglais (eng)
Descripteurs : Contrôle de fiabilité ; Méthode bayesienne ; Processus de Markov ; Processus de Poisson ; Processus stochastique ; Simulation
Index. décimale : 217 Statistique bayésienne
Note de contenu : Voir résumé et/ou sommaire détaillé en ligne sur le site de l’éditeur
En ligne : http://eu.wiley.com/WileyCDA/WileyTitle/productCd-0470744537.html
Permalink :http://genes.bibli.fr/opac/index.php?lvl=notice_display&id=95227
Bayesian analysis of stochastic process models [texte imprimé] / David Insua ; Fabrizio Ruggeri ; Mike Wiper . - John Wiley & Sons, 2012 . - XIII-290 p. : couv. ill. ; 24 cm. - (Wiley series in probability and statistics, ISSN 1940-6517) .
ISBN : 978-0-470-74453-6
Index. Notes bibliogr.
Langues : Anglais (eng)
Descripteurs : Contrôle de fiabilité ; Méthode bayesienne ; Processus de Markov ; Processus de Poisson ; Processus stochastique ; Simulation
Index. décimale : 217 Statistique bayésienne
Note de contenu : Voir résumé et/ou sommaire détaillé en ligne sur le site de l’éditeur
En ligne : http://eu.wiley.com/WileyCDA/WileyTitle/productCd-0470744537.html
Permalink :http://genes.bibli.fr/opac/index.php?lvl=notice_display&id=95227

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