Titre :	Statistical methods for reliability data
Type de document :	texte imprimé
Auteurs :	William Q. Meeker ; Luis A. Escobar
Editeur :	Chichester (GBR) ; Hoboken, N.J. : John Wiley & Sons
Année de publication :	1998
Collection :	Wiley series in probability and statistics, ISSN 1940-6517
Importance :	XXII-680 p.
Présentation :	fig.
Format :	24 cm
ISBN/ISSN/EAN :	978-0-471-14328-4
Note générale :	Bibliogr. p. 645-663. Index
Langues :	Anglais (eng)
Descripteurs :	Contrôle de fiabilité ; Systèmes (Théorie)
Index. décimale :	251 Modèles de durée - Fiabilité
Résumé :	This volume presents state-of-the-art, computer-based statistical methods for reliability data analysis and test planning for industrial products. It updates and improves established techniques as it demonstrates how to apply the new graphical, numerical, or simulation-based methods to a broad range of models encountered in reliability data analysis. It includes methods for planning reliability studies and analyzing degradation data, simulation methods used to complement large-sample asymptotic theory, general likelihood-based methods of handling arbitrarily censored data and truncated data, and more [D'après le résumé de l'éditeur]
Note de contenu :	Voir résumé et/ou sommaire détaillé en ligne sur le site de l’éditeur.
En ligne :	http://eu.wiley.com/WileyCDA/WileyTitle/productCd-0471143286.html
Permalink :	http://genes.bibli.fr/opac/index.php?lvl=notice_display&id=6699

Statistical methods for reliability data [texte imprimé] / William Q. Meeker ; Luis A. Escobar . - John Wiley & Sons, 1998 . - XXII-680 p. : fig. ; 24 cm. - (Wiley series in probability and statistics, ISSN 1940-6517) .
ISBN : 978-0-471-14328-4
Bibliogr. p. 645-663. Index
Langues : Anglais (eng)

Descripteurs :	Contrôle de fiabilité ; Systèmes (Théorie)
Index. décimale :	251 Modèles de durée - Fiabilité
Résumé :	This volume presents state-of-the-art, computer-based statistical methods for reliability data analysis and test planning for industrial products. It updates and improves established techniques as it demonstrates how to apply the new graphical, numerical, or simulation-based methods to a broad range of models encountered in reliability data analysis. It includes methods for planning reliability studies and analyzing degradation data, simulation methods used to complement large-sample asymptotic theory, general likelihood-based methods of handling arbitrarily censored data and truncated data, and more [D'après le résumé de l'éditeur]
Note de contenu :	Voir résumé et/ou sommaire détaillé en ligne sur le site de l’éditeur.
En ligne :	http://eu.wiley.com/WileyCDA/WileyTitle/productCd-0471143286.html
Permalink :	http://genes.bibli.fr/opac/index.php?lvl=notice_display&id=6699